一种基于横向多孔GaN的光电神经突触器件

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一种基于横向多孔GaN的光电神经突触器件
申请号:CN202411082943
申请日期:2024-08-08
公开号:CN119008763A
公开日期:2024-11-22
类型:发明专利
摘要
本发明涉及半导体人工神经形态器件领域,具体是一种基于横向多孔GaN的光电神经突触器件。本发明旨在解决传统电学突触器件的互连问题,通过光电神经突触器件实现高带宽、低串扰、低功耗的信息传输,为人工神经网络的研究提供创新和优化,同时拓宽GaN材料的应用范围。该器件主要包括横向多孔GaN层、源极、漏极、绝缘层和栅极。横向多孔GaN层通过阳极电化学腐蚀法制得,具有厚度大于100nm的特点。源极和漏极采用两层金属材料,下层与GaN形成肖特基接触,上层为Au。绝缘层用于隔离栅极与横向多孔GaN,材料包括SiO2、TiO2、Ta2O5、Al2O3,厚度在20nm~100nm之间。栅极为Cr/Au两层金属,厚度分别大于20nm、50nm。
技术关键词
神经突触器件 GaN层 光电 阳极电化学 栅极 神经形态器件 金属材料 肖特基 人工神经网络 高带宽 低功耗 半导体 合金
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