工业缺陷图像生成方法及装置、存储介质和电子设备

本公开提供了一种工业缺陷图像生成方法、工业缺陷图像生成装置、计算机可读存储介质和电子设备，涉及图像处理技术领域。该工业缺陷图像生成方法包括：对待去噪工业缺陷图像执行编码处理过程，以得到中间特征；编码处理过程包括至少一个第一下采样过程和至少一个第二下采样过程，第一下采样过程包括提取上下文信息的操作，第二下采样过程基于Transformer结构实现；对中间特征执行解码处理过程，以生成经去噪的工业缺陷图像；解码处理过程包括至少一个第一上采样过程和至少一个第二上采样过程，第一上采样过程基于Transformer结构实现，第二上采样过程包括提取上下文信息的操作。本公开可以生成工业缺陷图像，进而扩充模型训练的样本数据。