芯片验证方法、装置、设备及存储介质

本发明涉及芯片验证的技术领域，提供了芯片验证方法、装置、设备及存储介质，包括基于设计规格和性能参数获取初始测试用例集合，并进行分析，得到目标测试用例集合，基于集合以得性能测试信号序列，对序列进行处理，生成同步化测试信号序列并处理，得到全面覆盖测试信号序列并进行分析，生成故障模拟信号序列并进行处理，得到异常模拟测试序列；对异常模拟测试序列进行分析，生成差异化分析结果，根据分析结果对全面覆盖测试信号序列进行综合性能分析，生成性能分析结果。通过综合性能分析，确保芯片在各种复杂条件下的稳定性和可靠性，改善在对芯片进行深入验证时，存在着覆盖范围不足和异常状况处理不全面，影响芯片的可靠性和稳定性问题。