一种测量导电涂层与集流体间接触电阻的系统及方法

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一种测量导电涂层与集流体间接触电阻的系统及方法
申请号:CN202411087488
申请日期:2024-08-09
公开号:CN118624987B
公开日期:2024-10-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及电学测量技术领域,尤其涉及一种测量导电涂层与集流体间接触电阻的系统及方法。内容包括:设计多级测量方法,结合动态电流扫描和多点电压采样技术,获得初始测量数据;采用多阶段非线性自适应滤波算法对初始测量数据进行滤波处理,得到多阶段滤波后的数据;对多阶段滤波后的数据进行分段多元回归分析,校正非线性误差,得到校正后的电压数据;基于校正后的电压数据和对应的电流数据,得到接触电阻值。解决了现有技术无法充分消除测量数据中的噪声和干扰,无法准确校正测量数据中的非线性误差,无法准确观察电压随电流变化的特性,从而影响测量结果的可靠性和精确性,导致最终的接触电阻值不够稳定和准确的技术问题。
技术关键词
多元回归分析 接触电阻值 导电涂层 多阶段 数据处理模块 非线性误差 校正模块 滤波算法 数据存储 电压采样技术 电流 湿度控制装置 分段 消除滤波器
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