一种基于人工智能的芯片数据自检系统及方法

本发明公开了一种基于人工智能的芯片数据自检系统及方法，属于电子数字数据处理领域，本发明将获取的待检测芯片各输出接口的输出数据代入输出异常评估策略中进行输出异常评估，获取运行过程中芯片表面温度数据导入温度异常分析策略中进行芯片温度异常分析，将输出异常评估结果和芯片温度异常分析结果导入数据自检评估策略中进行数据自检评估，根据数据自检评估结果进行芯片检测判断，并根据芯片检测判断结果进行芯片异常预警，对待检测芯片各输出接口的输出数据和表面温度数据进行综合分析，提高了芯片数据检测准确率和智能化水平。