设备测试方法、设备测试装置、电子设备和存储介质

本发明实施例公开了一种设备测试方法、设备测试装置、电子设备和存储介质。本发明实施例在获取待测试设备的型号信息和待测试设备中多个待测试处理器的型号信息后，根据待测试设备的型号信息和各待测试处理器的型号信息确定待测试设备是否存在异常。若不存在异常，获取各待测试处理器对通用算子的运算时长，进而根据上述时长判断待测试设备是否为模拟器。模拟器对通用算子的处理能力通常与真实的电子设备对通用算子的处理能力存在明显差异，因此本发明实施例可以根据待测试设备中各待测试处理器对通用算子的运算时长准确判断待测试设备为模拟器或真实的电子设备。