MCU芯片ADC模块性能测试与数据自动处理系统及方法

本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种MCU芯片ADC模块性能测试与数据自动处理系统及方法，包括信号源、DAC模块、被测MCU芯片和上位机系统。信号源用于ADC动态参数测试，DAC模块生成测试信号。被测MCU芯片通过信号通路选择电路连接至信号源和DAC模块。上位机系统控制设备，接收和处理数据，实现ADC不同通道的测试。本发明优化了流片阶段MCU片上ADC模块测试程序，缩短了测试时长。通过上位机对电源的精准控制，可获取不同电压点的测试数据，评估性能参数。借助上位机程序，可快速直观地获得测试数据的分析结果，反映潜在问题。