一种用于光电薄膜材料制备管理监测方法及系统

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一种用于光电薄膜材料制备管理监测方法及系统
申请号:CN202411094564
申请日期:2024-08-10
公开号:CN119124255B
公开日期:2025-03-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种用于光电薄膜材料制备管理监测方法及系统,涉及光电薄膜材料制备技术领域,包括以下步骤:通过安装在基底表面的多个温度传感器实时监测基底的温度,并将所有温度传感器连接至一个中央数据采集系统,通过该系统实时收集并记录温度数据。本发明通过可及时发现非均匀加热的问题,这使得生产团队能够及时干预,避免了光电薄膜材料因加热不均匀导致的质量缺陷,当发现此问题时,快速定位存在异常隐患的加热元件,采用模糊逻辑算法对加热元件的温度进行实时调整,确保其温度始终处于最佳工作范围内,这样的智能调整不仅保证了生产过程的连续性和效率,还优化了能耗和生产周期,确保每批材料均符合高质量标准。
技术关键词
最佳工作温度 光电薄膜材料 管理监测方法 模糊逻辑算法 均匀加热 元件 数据采集系统 基底 功率 温度传感器 温度监测模块 变量 偏差 管理监测系统 模糊推理 模糊规则 分析模块 表达式
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