基于特征乱序重排的表面缺陷检测方法和装置

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基于特征乱序重排的表面缺陷检测方法和装置
申请号:CN202411100928
申请日期:2024-08-12
公开号:CN118840650A
公开日期:2024-10-25
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种基于特征乱序重排的表面缺陷检测方法和装置,涉及视觉异常检测技术领域,该方法包括:获取待检测图像的多层次融合特征图;利用特征重构网络对所述多层次融合特征图进行特征乱序重排,得到重构特征图;根据所述多层次融合特征图与所述重构特征图之间的差异,得到异常检测结果。由于样本重构特征图是正常样本多层次融合特征图经过特征乱序重排得到的,因而可以根据任务难度构建不同样本重构特征图来适配工业环境的不同设置,使基于正常样本多层次融合特征图和样本重构特征图之间的全局误差和局部误差训练得到的特征重构网络,在工业环境中的不同设置下均能有效实现异常检测。
技术关键词
重排特征 融合特征 表面缺陷检测方法 多层次特征 表面缺陷检测装置 样本 卷积神经网络提取 误差 序列 参数更新模块 线性 图像 异常检测技术 重构模块 拼接模块 特征选择
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