压敏电阻的寿命预测方法、装置、电子设备及存储介质

本发明涉及一种压敏电阻的寿命预测方法、装置、电子设备及存储介质，属于设备测试技术领域，其中，该压敏电阻的寿命预测方法包括：将归一化后的待测压敏电阻的测试数据输入寿命预测模型；基于寿命预测模型和归一化后的待测压敏电阻的测试数据，对待测压敏电阻的寿命进行预测，得到待测压敏电阻的寿命预测结果；其中，寿命预测模型为经过PSO优化的SVR模型，寿命预测模型是基于经过PCA算法优化的压敏电阻测试数据训练集训练得到的。本发明在实现压敏电阻寿命预测的同时，提高了寿命预测的准确性，进而提高了压敏电阻使用的安全性。