电子元件几何尺寸数据提取方法、装置、设备及存储介质

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电子元件几何尺寸数据提取方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202411110037
申请日期:2024-08-14
公开号:CN119027959A
公开日期:2024-11-26
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种电子元件几何尺寸数据提取方法、装置、设备及存储介质。涉及计算机辅助设计技术领域。该方法包括:获取电子元件的PDF格式数据手册;基于从PDF格式数据手册中提取的尺寸特征对电子元件的尺寸视图进行定位;基于尺寸视图的定位数据,从PDF格式数据手册中提取出尺寸视图页面数据,根据尺寸视图页面数据获取矢量图形,根据尺寸特征中的尺寸数据对所述矢量图形进行缩放处理,得到全比例的尺寸图形数据,基于全比例的尺寸图形数据,识别出特征元素,利用特征元素确定电子元件几何尺寸数据,并将该电子元件几何尺寸数据提取存储于设定的数据结构中。本申请解决了目前电子元件数据手册中描述封装或几何外形的图形及其关联尺寸信息的提取问题。
技术关键词
电子元件 尺寸特征 手册 页面数据 计算机执行指令 数据提取方法 格式 标记 计算机辅助设计技术 坐标 图像 元素 数据提取装置 语义特征 矩阵 样式 数据存储 可读存储介质
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