一种斜拉桥结构位移效应分析方法与系统

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一种斜拉桥结构位移效应分析方法与系统
申请号:CN202411113231
申请日期:2024-08-14
公开号:CN119293652A
公开日期:2025-01-10
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种斜拉桥结构位移效应分析方法与系统,包括以下步骤:S1、数据收集与处理:收集斜拉桥位移响应相关的监测数据,并对数据进行预处理,得到数据集;S2、数据集扩充:将斜拉桥以时间戳作为索引的时序数据进行频谱分析,并进行特征工程与时频特征提取,实现对现有特征数的扩充,并将扩充数据扩充到数据集中,随机将数据集划分为训练集和测试集;S3、模型构建,得到结构位移预测模型;S4、模型测试。本发明结合可学习的归一化和反归一化技术,实现数据、模型、模型解释、解释性反馈等流程的动态循环闭合,提升了预测模型的泛化性能,有利于斜拉桥结构位移效应分析算法模型的实际应用。
技术关键词
斜拉桥结构 效应分析方法 特征工程 位移监测数据 超参数 网格搜索方法 集成学习模型 元学习算法 分析模块 时序 去噪算法 数据采集模块 频域特征 包装器 算法模型 动态更新
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