一种芯片调试方法、系统、电子设备及计算机存储介质

本申请公开了一种芯片调试方法、系统、电子设备及计算机存储介质，涉及芯片设计技术领域，系统包括与待调试芯片的SRAM时序接口连接的链接模块，用于获取待调试芯片内部的联调信息，联调信息包括待调试芯片内部SRAM的地址和SRAM对应的数据；与链接模块及仿真平台分别连接的译码模块，用于对联调信息进行解码，得到待调试芯片的断点信息，并将断点信息传输至仿真平台，以使仿真平台将断点信息与仿真行为相关联；其中，仿真平台基于硬件描述语言搭建，且仿真平台用于对待调试芯片进行验证。本申请将仿真平台的验证逻辑部分、处理器内的执行代码进行联调，便于仿真平台对待调试芯片进行验证，提高了芯片调试效率。