一种闪存的测试系统及测试方法

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一种闪存的测试系统及测试方法
申请号:CN202411124780
申请日期:2024-08-16
公开号:CN118645144B
公开日期:2024-12-20
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种闪存的测试系统及测试方法,测试系统包括温箱,温箱内设有闪存,温箱用以调节闪存周围的温度范围;控制器,在某组区块中,控制器对不同区块按照阶梯分布的编程/擦除次数进行数据处理;其中,在某组区块进行阶梯分布的编程与擦除次数数据处理后,控制器在第一温度区间下,首先对某组区块进行宽温测试和数据保持测试,其次将某组区块进行擦除处理,然后在第二温度区间下,对某组区块进行宽温测试和数据保持测试,第二温度区间包括第一温度区间。本发明可在闪存于不同温度区间,保持最佳使用性能的前提下,获取其最大的使用寿命。
技术关键词
编程 数据 测试方法 控制器 阶梯 速率 芯片 晶圆 分段
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