基于红外的机载电子系统电路板运放类芯片故障诊断方法

本发明涉及电路板故障诊断技术领域，具体为基于红外的机载电子系统电路板运放类芯片故障诊断方法，包括以下步骤：采集不同工作模式下的机载电系统电路板的红外序列图像II以及对应的序列温度矩阵TM；将步骤S1的红外序列图像II进行预处理，之后送入语义分割模型，得到感兴趣区域关键电子元件－运放类芯片的红外分割图像III。本发明通过考虑温度序列的温度变化趋势和故障类别信息，以及利用红外图像和深度学习算法进行故障分类，有效解决了现有技术中因外部环境变化、故障类别温度差异不明显和元器件老化等因素导致的故障检测不准确的问题，提高了故障检测的准确性和泛化性。