用于寄存器功能验证的方法及装置、测试验证设备

本申请涉及集成电路技术领域，公开一种用于寄存器功能验证的方法，包括：根据寄存器列表文件，生成寄存器功能测试用例；对寄存器功能测试用例进行回归仿真，以获得日志记录；提取日志记录中的错误信息；利用训练后的集成学习模型，对错误信息对应的寄存器进行读写属性的预测，并将预测结果记录于寄存器列表文件。该方法可实现寄存器功能的自动验证，降低时间成本和人力成本，且验证方法简便效率高。本申请还公开一种用于寄存器功能验证的装置和测试验证设备。