基于FPGA的芯片时钟精度测试方法和相关装置

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基于FPGA的芯片时钟精度测试方法和相关装置
申请号:CN202411129603
申请日期:2024-08-16
公开号:CN119070941A
公开日期:2024-12-03
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种基于FPGA的芯片时钟精度测试方法和相关装置,方法包括:处理器组建事件报文,并发送至目标端口,以使目标端口在事件报文中加入时间戳,环回转发事件报文,以及捕捉环回接收时间,其中,环回接收时间为目标端口接收经过环回的事件报文的时间;处理器接收目标端口反馈的事件报文以及环回接收时间,计算时间戳和环回接收时间的差值;处理器基于差值评估芯片时钟精度。本申请通过单台FPGA设备端口环回进行芯片时钟精度测试,无需考虑时钟的频率偏差和相位偏差,可实现FPGA环境下的芯片时钟精度测试,无需等待芯片回片后使用时钟精度测试仪进行测试,无需脱离以太网芯片FPGA搭建专用测试环境,省时省力。
技术关键词
精度测试方法 评估芯片 时钟 处理器 精度测试装置 交换机 精度测试仪 机器可读存储介质 存储器存储指令 报文接收模块 设备端口 省时省力 时间差 偏差
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