自适应软测量方法、装置、设备、存储介质及产品

本申请公开了一种自适应软测量方法、装置、设备、存储介质及产品，涉及计算机技术领域，公开了自适应软测量方法，包括：获取待测时间序列；对所述待测时间序列进行时序分布识别，得到时序分布代表序列；将所述时序分布代表序列输入至预设的软测量模型，基于所述软测量模型，对所述时序分布代表序列进行软测量，得到软测量结果，其中，所述软测量模型是基于时序分布代表序列训练样本和所述时序分布代表序列训练样本的软测量结果标签，对预设的待训练模型进行迭代训练得到的。本申请通过对所述待测时间序列进行时序分布识别，得到时序分布代表序列，减小了传感器退化导致的数据偏移对测量精度的影响，显著提高了软测量技术的精度。