摘要
本申请提供一种芯片封装方法及芯片封装结构,涉及半导体制造技术领域。在上述芯片封装方法中,通过对测试底板进行封装,并基于切割走道对测试底板进行切割,得到芯片层的边缘与基板的边缘齐平的芯片封装结构。在上述过程中,对测试底板进行一次性封装,可以避免基板因为压力不均、热膨胀差异等因素影响而发生偏移,从而保证植球精度和切割精度,同时使得芯片封装结构中的芯片层的边缘与基板的边缘齐平,满足市场小型化封装的需求。
技术关键词
芯片封装结构
芯片封装方法
基板
导电球
底板
载板
半导体
脏污
精度
粉末
压力