摘要
本申请提供了一种删除晶圆图中的PCM区域的方法及相关装置,方法包括:获取晶圆图中PCM区域与芯片的排布方式;在排布方式为PCM区域围绕芯片排布的情况下,获取晶圆图的中心芯片的目标图像信息;获取经过中心芯片的多条目标直线;针对多条目标直线中的每条目标直线执行以下操作:根据中心芯片和当前目标直线确定标准芯片,标准芯片对应的图像信息与目标图像信息相同,且标准芯片经过当前目标直线并与中心芯片的距离最近;确定中心芯片与标准芯片的距离为标准距离;根据当前目标直线、目标图像信息和标准距离确定当前目标直线对应的PCM区域;删除当前目标直线对应的PCM区域。可以提高对晶圆图中的PCM区域的删除的效率。
技术关键词
芯片
直线
排布方式
图像
坐标
阵列
处理器
可读存储介质
程序
指令
基础
存储器
电子设备
密度
关系
基准
计算机
系统为您推荐了相关专利信息
电性检测装置
结构强化模块
承载基板
柔性缓冲结构
检测探针
信号恢复电路
相位检测电路
信号同步电路
多芯片
相位差检测电路
多尺度特征融合
多尺度特征提取
模块
输出特征
融合特征
贝叶斯模型
景深
深度卷积神经网络
图像去雾方法
最大化方法