删除晶圆图中的PCM区域的方法及相关装置

AITNT
正文
推荐专利
删除晶圆图中的PCM区域的方法及相关装置
申请号:CN202411365458
申请日期:2024-09-29
公开号:CN118966136B
公开日期:2025-01-14
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种删除晶圆图中的PCM区域的方法及相关装置,方法包括:获取晶圆图中PCM区域与芯片的排布方式;在排布方式为PCM区域围绕芯片排布的情况下,获取晶圆图的中心芯片的目标图像信息;获取经过中心芯片的多条目标直线;针对多条目标直线中的每条目标直线执行以下操作:根据中心芯片和当前目标直线确定标准芯片,标准芯片对应的图像信息与目标图像信息相同,且标准芯片经过当前目标直线并与中心芯片的距离最近;确定中心芯片与标准芯片的距离为标准距离;根据当前目标直线、目标图像信息和标准距离确定当前目标直线对应的PCM区域;删除当前目标直线对应的PCM区域。可以提高对晶圆图中的PCM区域的删除的效率。
技术关键词
芯片 直线 排布方式 图像 坐标 阵列 处理器 可读存储介质 程序 指令 基础 存储器 电子设备 密度 关系 基准 计算机
系统为您推荐了相关专利信息
1
芯片电性检测装置及其制作方法
电性检测装置 结构强化模块 承载基板 柔性缓冲结构 检测探针
2
基于多芯片同步的同步信号恢复电路、信号同步电路及数字电路
信号恢复电路 相位检测电路 信号同步电路 多芯片 相位差检测电路
3
一种基于改进YOLO网络的轻量化血细胞检测方法
多尺度特征融合 多尺度特征提取 模块 输出特征 融合特征
4
一种基于深度贝叶斯的水下图像景深估计方法及装置
贝叶斯模型 景深 深度卷积神经网络 图像去雾方法 最大化方法
5
一种电流采样电路、PCB板及芯片
场效应管 电流采样电路 栅极 支路 采样电阻
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号