极片异常检测方法、装置和非易失性存储介质

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极片异常检测方法、装置和非易失性存储介质
申请号:CN202411377873
申请日期:2024-09-29
公开号:CN119360088A
公开日期:2025-01-24
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种极片异常检测方法、装置和非易失性存储介质。其中,该方法包括:获取目标产线中的待检测极片的图片数据;将待检测极片的图片数据输入到目标极片异常检测模型中,采用目标极片异常检测模型中的可变核卷积模块提取待检测极片的图片数据的特征图,其中,可变核卷积模块用于基于待检测极片的图片数据的特征尺度的大小调整卷积核的大小;基于待检测极片的图片数据的特征图,确定待检测极片的异常检测结果。本发明解决了相关技术中极片异常检测算法的精度低和过杀率高的技术问题。
技术关键词
极片 图片 卷积模块 异常检测方法 非易失性存储介质 数据 神经网络模型训练 异常检测装置 计算机程序产品 处理器 存储器 计算机设备 优化器 符号 屏幕 噪声 算法
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