一种对集成电路中的数字电路模块进行验证的方法

本发明公开了一种对集成电路中的数字电路模块进行验证的方法，属于电路测试技术领域，该验证方法具体步骤如下：Ⅰ、分析电路模块的功能需求和性能指标并构建虚拟模型；Ⅱ、识别电路模块中的异常和边界条件并生成测试用例；Ⅲ、对电路模块进行功能验证并评估模块性能；Ⅳ、根据性能评估结果优化当前电路配置；Ⅴ、对电路进行随机性验证以检测潜在的脆弱性和设计缺陷；本发明能够显著提升电路性能，减少手动调参的工作量，降低设计复杂性和验证难度，提高电路模块在各种场景下的性能表现，能够在有限的测试资源下重点关注可能引发问题的输入区域，提高验证过程的全面性以及验证效率，且电路的稳定性评估更加精确，确保验证能够持续提升。