栅极驱动芯片的测试装置

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栅极驱动芯片的测试装置
申请号:CN202411392237
申请日期:2024-09-30
公开号:CN119291456A
公开日期:2025-01-10
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种栅极驱动芯片的测试装置,栅极驱动芯片的测试装置包括:测试母板,测试母板上设置有第一插接电连接部,测试母板适于测试栅极驱动芯片;测试子板;栅极驱动芯片安装座,栅极驱动芯片安装座设置于测试子板第一方向的另一侧且与测试子板电连接,栅极驱动芯片安装座上设置有插拔部,插拔部适于与栅极驱动芯片可拆卸地插接电连接。由此,通过设置栅极驱动芯片安装座,将栅极驱动芯片安装座设置于测试子板第一方向的另一侧且与测试子板电连接,并且在栅极驱动芯片安装座上设置有插拔部,这样可以实现栅极驱动芯片在测试装置上的可拆卸电连接,从而可以减少焊接和拆卸的带来的不便,便于安装和更换栅极驱动芯片,可以提升测试的便捷性。
技术关键词
栅极驱动芯片 测试母板 针座 电连接线 子板 安装座 插孔 插针 定义
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