一种晶圆测试结果生成方法、装置、电子设备及存储介质

本发明实施例公开一种晶圆测试结果生成方法、装置、电子设备及存储介质，涉及半导体芯片技术领域，其中，所述方法包括：获取对同一晶圆进行多次测试所生成的多个测试文件；整合所述多个测试文件，其中对于晶圆上同一半导体芯片的多个测试结果，仅保留最优测试结果；基于整合后的测试文件，得到晶圆的最终测试结果。本发明实施例提供的技术方案可适用于晶圆测试的场景，能够解决现有技术中晶圆测试数据处理效率低下、测试结果提炼不准确的问题。