基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像方法与系统

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基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像方法与系统
申请号:CN202411440064
申请日期:2024-10-15
公开号:CN119247386A
公开日期:2025-01-03
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像方法与系统,属于量子雷达和单光子探测技术领域,具体涉及一种基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像系统和方法,包括窄带能量‑时间纠缠双光子源、自由空间光学收发单元、物理信息获取单元;窄带能量‑时间纠缠双光子源输出的具有纠缠特性的两个光子分别输入到自由空间光学收发单元和物理信息获取单元,在物理信息获取单元联合接收直接从窄带能量‑时间纠缠双光子源输出的光子和自由空间光学收发单元输出的光子,从而得到测量物体的物理信息;本发明解决了量子关联测量领域中信背比较小和单光子探测器输入饱和的问题,使系统能在更大背景噪声的条件下清晰成像。
技术关键词
测距成像 单光子探测器 自由空间光学 时间数字转换器 光学环形器 二阶非线性光学晶体 非线性光学媒质 珀罗光学滤波器 纠缠双光子 激光泵浦源 光波分复用器 阵列波导光栅 镀膜光学 纠缠光源 滤波器件 单光子探测技术 量子纠缠特性 数字信号处理芯片
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