一种基于改进YOLOv8的PCB表面缺陷检测方法、系统、设备及介质

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一种基于改进YOLOv8的PCB表面缺陷检测方法、系统、设备及介质
申请号:CN202411449968
申请日期:2024-10-17
公开号:CN119399140A
公开日期:2025-02-07
类型:发明专利
摘要
一种基于改进YOLOv8的PCB表面缺陷检测方法,包括:获取PCB缺陷的图片,并使用标注软件进行人工标注和扩充处理,制作PCB表面缺陷的数据集,并将数据集划分为训练集、验证集和测试集;构建基于改进YOLOv8的PCB表面缺陷检测网络模型;使用训练集对基于改进YOLOv8的PCB表面缺陷检测网络模型进行训练;使用验证集和测试集对训练后的基于改进YOLOv8的PCB表面缺陷检测网络模型进行评估;本发明在保证PCB表面缺陷检测精度提升同时,又能提升缺陷检测的回归率。
技术关键词
表面缺陷检测方法 注意力机制 标注软件 表面缺陷检测设备 表面缺陷检测系统 卷积方法 网络模型训练 模块 训练集 可读存储介质 融合策略 精度 数据 图片 计算机 网络结构 样本 瓶颈
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