芯片中带SPC的sent接收模块验证系统和方法

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芯片中带SPC的sent接收模块验证系统和方法
申请号:CN202411454802
申请日期:2024-10-17
公开号:CN119211770A
公开日期:2024-12-27
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片中带SPC的sent接收模块验证系统和方法,通过构建由SPC控制器、sent发送组件、待测设计和两个buf1组件组成的新的验证系统,利用两个buf1组件来分别控制SPC控制器与微控制器之间的信号通路,以及sent发送组件与微控制器之间的信号通路,在EDA验证阶段即可对带SPC功能的sent接收模块进行验证,使得带SPC功能的sent接收模块验证不需要在硬件级别实现。同时,该验证技术能够很好的兼容其他既有的整芯片验证平台和传统的sent接收模块验证平台,具有很好的灵活性和可重用性,可大幅的提高验证效率。
技术关键词
模块验证系统 微控制器 UVM验证平台 信号 验证方法 模块验证平台 芯片验证平台 数据 协议 阶段
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