一种功率半导体器件双向测试装备及测试方法

本发明涉及电子元器件测试技术领域，具体公开了一种功率半导体器件双向测试装备及测试方法，所述功率半导体器件双向测试装备包括：并排设置的静态测试机和动态测试机；中转台；双向投料单元；加热单元；冷却单元以及器件传输单元。通过双向上料和下料的结构设置，有效减少了功率半导体器件在测试过程中的搬运时间，提高测试效率；可以根据生产需求从任一侧上料和下料，适应不同的生产线布局和操作习惯；由于可以进行双向运行，设备可以在不同方向上进行操作，增加了设备使用率，同时可以在有限的空间内实现更高效的物料流动和测试操作；可以根据生产计划和测试需求灵活调整上料和下料的顺序，优化生产流程，增强生产灵活性。