芯片封装的异常位置热点图生成方法、装置、设备及介质

本发明公开了一种芯片封装的异常位置热点图生成方法、装置、设备及存储介质，包括：获取各封装批次的测试芯片的测试结果信息和基板位置坐标；其中，各所述封装批次使用多条规格相同的基板；提取所述测试结果信息中各失效模式对应的失效信息；按照所述失效信息从所述基板位置坐标中确定各失效模式的异常基板位置；针对各所述失效模式，根据所述失效模式对应的所述异常基板位置生成异常位置热点图。利用该方法：芯片的缺陷低频率偶尔发生时，通过大量历史数据和基板位置坐标生成异常位置热点图，使得工程师快速准确地找到缺陷的位置。