基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法

AITNT
正文
推荐专利
基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法
申请号:CN202411464034
申请日期:2024-10-21
公开号:CN119064459B
公开日期:2025-04-11
类型:发明专利
摘要
本发明申请公开了基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法,涉及超声波检测陶瓷材料缺陷技术领域。该基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法,包括以下步骤:S1,预实验;S2,性能检测;S3,判断性能评估值;S4,获取缺陷系数。本发明申请通过预实验确定超声扫描显微镜的最佳数量,然后对超声扫描显微镜进行性能检测,接着调整超声扫描显微镜的扫描参数直至性能评估值符合预设工作标准,最后通过超声扫描显微镜采集待检测材料的缺陷数据,据此得到缺陷系数,达到了更准确的通过超声扫描显微镜进行陶瓷材料的缺陷检测的效果,解决了现有技术中存在通过超声扫描显微镜进行陶瓷材料缺陷检测时数据准确性低的问题。
技术关键词
扫描显微镜 数据评估方法 超声波 分辨率 图像分析软件 扫描面积 指数 频谱分析仪 陶瓷材料 频率 图像配准算法 速度 缺陷技术 计时器 序列 时间段 参数 像素点
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种工业图像缺陷检测方法
图像缺陷检测模型 图像缺陷检测方法 教师 融合特征 网络
2
一种多模态大模型驱动的惯性平台温度场生成方法
惯性平台 图像特征提取 生成方法 评估模型稳定性 文本编码器
3
融合地形动态补偿的长距离输水管道流量监测方法
流量监测方法 输水管道 多源数据融合技术 消除水锤效应 Delaunay三角剖分
4
一种基于湿润性梯度和气泡单向操控的三维电解制氢功能电极的制备方法
制氢功能 电极 高分子光固化树脂 电解 基底
5
基于结合点云关联和相偏特性的点云校正方法
校正方法 速度 结合点 发射天线 多输入多输出MIMO天线
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号