一种标签线性分布情形下的RFID系统性能预测方法

本发明公开了一种标签线性分布情形下的RFID系统性能预测方法，方法步骤如下：S1：将RFID标签线性阵列分布，并记录标签的数量n和间距；S2：记录标签工作波长λ，并计算标签间距的波长数dλ；S3：依据标签的数量n和波长数dλ对标签线性阵列分布RFID系统性能的数学模型求解，获取系统性能衰减最明显位置的性能衰减量；S4：通过性能衰减量确定激活所有标签所需要的发射功率提升倍率。本发明的性能预测方法具有计算量小、计算速度快和适应性普遍等优点。