污点分析方法、装置、电子设备及可读存储介质

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污点分析方法、装置、电子设备及可读存储介质
申请号:CN202411470933
申请日期:2024-10-21
公开号:CN119442233A
公开日期:2025-02-14
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种污点分析方法、装置、电子设备及可读存储介质,属于数据处理技术领域。其中,该方法包括:接收针对应用程序的程序内容的编译指令,其中,程序内容包括应用源码和本地源码;根据编译指令,调用本地源码编译器通过截获程序获取本地源码的中间表示文件,其中,截获程序和本地源码编译器具有预设链接关系,本地源码编译器通过预设链接关系调用截获程序获取本地源码的中间表示文件,截获程序用于将本地源码编译为中间表示文件;根据编译指令,调用应用源码编译器对应用源码进行编译,得到应用源码的中间表示文件;对应用源码的中间表示文件和本地源码的中间表示文件进行污点分析,得到程序内容的污点分析结果。
技术关键词
程序 污点分析方法 指令 高风险 软件开发工具包 电子设备 可读存储介质 数据处理技术 关系 处理器 入口 分析装置 分析模块 存储器 参数 算法
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