近场扫描方法、装置、设备和存储介质

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近场扫描方法、装置、设备和存储介质
申请号:CN202411477723
申请日期:2024-10-22
公开号:CN119438752A
公开日期:2025-02-14
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种近场扫描方法、装置、设备和存储介质。方法包括:获取二维网格中各第一扫描点的电磁场信息,二维网格根据目标扫描区域确定,第一扫描点的个数小于二维网格中的总网格点数;根据各电磁场信息确定各第一扫描点的梯度信息和扫描概率,梯度信息用于表示目标扫描区域中电磁场变化满足预设阈值的方向;根据各梯度信息和扫描概率确定下一次扫描的多个第二扫描点,直至扫描次数满足预设条件;根据二维网格中各扫描点的电磁场信息确定目标扫描区域的电磁场分布。采用本方法能够提高近场扫描的效率。
技术关键词
位移机构 扫描探头 近场扫描系统 网格 频谱仪 扫描方法 控制器 扫描装置 处理器 计算机设备 可读存储介质 模块 基础 存储器 电压 算法 尺寸
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