评估方法和评估装置

本申请提供了一种评估方法和评估装置。包括：电子设备利用第一定位算法获取目标设备的第一定位结果，所述第一定位算法为非基于状态空间表示SSR修正参数的定位算法；所述电子设备从多种定位算法中选择第二定位算法，所述多种定位算法包括多种基于所述SSR修正参数进行定位的定位算法；所述电子设备利用所述第二定位算法获取所述目标设备的第二定位结果；所述电子设备根据所述第一定位结果与所述第二定位结果之间的差异，评估基于所述SSR修正参数进行定位的定位精度。相比于传统方案中仅采用单一算法对SSR修正参数进行评估，有助于提高SSR修正参数评估所适用的场景、拓宽其适用范围，以更加灵活地应对多样化的需求。