一种框架测试方法及系统、电子设备、存储介质

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正文
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一种框架测试方法及系统、电子设备、存储介质
申请号:CN202411479020
申请日期:2024-10-22
公开号:CN119645828A
公开日期:2025-03-18
类型:发明专利
摘要
本说明书实施例涉及信息技术领域,具体涉及一种框架测试方法及系统、电子设备、存储介质。其中框架测试方法中:将在测试框架中开发得到的测试样本程序部署至容器中进行运行,并在运行过程中获取测试样本程序运行时所述运行环境中的测试属性,这些可获取得到的测试属性即该测试框架允许暴露的属性数据,对这些测试属性进行赋值操作,最后即可根据赋值的成功与否得到测试框架的测试结果。
技术关键词
深度优先搜索算法 测试方法 框架 可执行程序代码 测试模块 样本 数据 处理单元 对象 节点 电子设备 存储器 处理器 容器 可读存储介质 接口 计算机
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