一种低压引脚芯片的测试系统

本发明提供一种低压引脚芯片的测试系统，包括测试器、调压单元和被测芯片，所述测试器通过调压单元与被测芯片连接，所述调压单元包括若干调压电路和控制模块，所述测试器的引脚通过调压电路与被测芯片的引脚连接，所述控制模块用于控制所有调压电路动作；所述调压电路包括降压电路和升压电路，所述降压电路包括用于降压的放大器U1和导通升压电路的开关器U2，所述大器U1和开关器U2分别与控制模块电连接，以控制降压和导通；所述升压电路包括比较器U3，所述比较器U3与控制模块电连接，以控制升压。本发明能够使FPGA直接与LPDDR直接等电平传输，使常规测试器能够兼容测试LPDDR。