一种面向MLCC的深度学习缺陷检测方法及系统

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一种面向MLCC的深度学习缺陷检测方法及系统
申请号:CN202411490417
申请日期:2024-10-24
公开号:CN119444692B
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本发明涉及计算机视觉图像处理领域,更具体地说,它涉及一种面向MLCC的深度学习缺陷检测方法及系统,其技术方案要点是,包括以下步骤:S1、构建图像缺陷检测系统,用于采集、筛选图像,生成缺陷数据集;S2、构建ADS‑YOLO模型,将所述缺陷数据集输入至所述ADS‑YOLO模型进行训练,评估并保存最优权重;S3、利用保存有最优权重的ADS‑YOLO模型,对测试样本进行目标检测,输出检测结果。本发明通过设计面向MLCC的深度学习缺陷检测网络ADS‑YOLO,具有提升目标检测算法的检测精度、检测速度以及简化网络结构的优点。
技术关键词
YOLO模型 缺陷检测方法 旋转平台 光源控制器 卷积模块 环形光源 图像缺陷检测 激光传感器 简化网络结构 注意力机制 缺陷检测系统 镜头 相机 图像采集单元 夹具 残差结构 计算机
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