一种光通片缺陷检测方法

本发明公开了一种光通片缺陷检测方法，包括以下步骤：步骤一：将原始图像转化为灰度图进行预处理获得二值化图像；步骤二：通过轮廓检测获取二值化图像中的光通片顶点坐标即轮廓检测坐标以及光通片尺寸、光通片倾斜角度、光通片中心坐标；步骤三：使用Blob检测获取灰度图中光通片中心坐标；步骤四：将轮廓检测坐标与Blob检测坐标融合后的坐标进行顶点内缩去除二值化图像中的光通片毛边对最终检测结果的影响并制作掩膜图；步骤五：对二值化图像的外接矩形区域进行缺陷检测，随后在原始图像中对缺陷进行标记。本发明使用Blob中心坐标与轮廓中心坐标对比，并将Blob中心坐标与轮廓信息结合，补充轮廓顶点坐标，防止出现漏检，获取的坐标更加准确。