一种基于改进YOLO算法的PCB缺陷检测系统以及方法

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一种基于改进YOLO算法的PCB缺陷检测系统以及方法
申请号:CN202411511097
申请日期:2024-10-28
公开号:CN119540152B
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于改进YOLO算法的PCB缺陷检测系统以及方法,所述检测系统是采用了改进的YOLOX算法,通过优化数据增强,减少单一Mosaic数据增强带来的不稳定性,提高了模型的精度,包括:图像采集处理模块、神经网络模型改进模块、模型训练模块、模型验证模块、缺陷检测模块;同时检测方法是搭建PCB缺陷数据集图像采集系统、通过工业CCD相机采集PCB表面缺陷图像作为原始数据集、数据集图像预处理、改进YOLOX网络模型,训练模型参数设置、生成PCB缺陷检测模型、测试测试集等步骤。本发明能够搭建的缺陷检测系统能够实现PCB缺陷的自动检测,具有成本低、速度快、精度高的优点。
技术关键词
缺陷检测系统 缺陷检测方法 YOLO算法 模型训练模块 神经网络模型 多尺度特征融合 图像采集系统 光源控制器 工业CCD相机 空间金字塔池化 表面缺陷图像 数据 照相机 特征提取能力 矩形光源 夹持装置
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