PCB缺陷检测方法、系统、设备及存储介质

本申请公开了一种PCB缺陷检测方法、系统、设备及存储介质，属于工业产品缺陷检测技术领域；其中方法包括：获取PCB数据集，对PCB数据集进行图像预处理和缺陷标注；创建虚拟运行环境，在虚拟运行环境中构建YOLOv10模型，并对YOLOv10模型进行轻量化处理；将空间到深度卷积SPD_conv模块优化为DSPD模块，并将DSPD模块配置到YOLOv10模型中，得到DSPD_YOLOv10模型；构建双向特征金字塔网络BiFPN，并将其配置到DSPD_YOLOv10模型的颈部网络中；根据所述PCB数据集对所述DSPD_YOLOv10模型进行训练，根据训练好的所述DSPD_YOLOv10模型对待检测样品进行检测；通过使用DSPD_YOLOv10模型来对PCB缺陷检测，实现了对PCB缺陷的高精度、高效率检测。