一种基带原型验证数值分析方法和可读存储介质

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一种基带原型验证数值分析方法和可读存储介质
申请号:CN202411529092
申请日期:2024-10-30
公开号:CN119047385B
公开日期:2025-02-28
类型:发明专利
摘要
本申请涉及数字信号处理运算与基带原型验证和仿真领域,尤其涉及一种基带原型验证数值分析方法和可读存储介质,在原型验证平台上板运行生成原型验证工程,并进行业务测试,通过将上一级目标运算电路的输出数据输入到本级目标运算电路,并在本级目标运算电路中添加本级的数值监测分析单元,监测分析本级目标运算电路和上一级数值监测分析单元。该方法能够在原型验证工程的业务测试出现异常时,快速确定出现问题的目标运算电路的级数位置。
技术关键词
运算电路 分析单元 数值分析方法 原型验证平台 数字信号处理 数据一致性验证 电子设备上执行 可读存储介质 上板 仿真平台 异常状态 级联 波形 算法
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