基于统计注意力的位姿测量算法

本发明涉及计算机与机械领域交叉的位姿测量技术，具体涉及一种基于统计注意力的位姿测量算法。该方法通过结合3D图卷积(3D‑GC)架构和统计注意力机制，有效地捕捉物体特征之间的长距离依赖关系，并利用高阶统计信息来辨识不同物体之间的细微差异，最后获得更准确的物体位姿结果。