晶圆级封装方法及芯片结构

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晶圆级封装方法及芯片结构
申请号:CN202411537012
申请日期:2024-10-31
公开号:CN119400717A
公开日期:2025-02-07
类型:发明专利
摘要
本发明揭示了一种晶圆级封装方法及芯片结构,晶圆级封装方法包括步骤:提供第一晶圆和第二晶圆,第一晶圆包括绝缘介质层以及设置于绝缘介质层内的金属互联层;在第一晶圆和/或第二晶圆制作外溢空腔;键合连接第一晶圆和第二晶圆,形成晶圆级封装结构,晶圆级封装结构包括位于所述第一晶圆和第二晶圆之间的键合层,至少部分键合层外溢至外溢空腔;沿着切割区域切割晶圆级封装结构,所述外溢空腔避让所述切割区域的外侧缘;如此,刀头切割时的外侧缘不会碰到空腔,晶圆级封装结构提供较好的支撑性,不易破裂受损。
技术关键词
晶圆级封装结构 晶圆级封装方法 金属互联层 空腔 金属密封圈 芯片结构 介质 围坝结构 绝缘 基板 沟道结构 单层 环状 叠层 刀头 错位
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