一种芯片外观检测装置

本发明属于芯片检测技术领域，具体涉及一种芯片外观检测装置，包括机体，机体前侧设有控制板，机体上侧设有检测座，检测座中设有检测通道，机体上侧设有支架，支架设有指向检测通道的探头，机体上侧设有支撑杆，支撑杆上侧设有显示屏，检测座左右两侧均设有安装架，两个安装架相互远离一端均设有安装板，两个安装板下侧均设有电机，两个电机均传动装配有穿过安装板的转动件，两个安装板中侧均转动装配有转轴，两个转轴远离电机一端连接有转板，转板的上下两侧均转动装配有驱动轴，转动件远离电机一侧设有矩形孔，矩形孔内设有第一弹簧，第一弹簧固定连接有滑块，滑块外表面设有可与驱动轴磁连接的磁铁块，转板设有与滑块相匹配的触发机构。