测试设备

本发明揭示了一种测试设备，用于对待测芯片进行电性能测试。测试设备包括壳体、第一电路板以及探针连接器。第一电路板设置于壳体内，第一电路板所在的平面与待测芯片所在的平面相互垂直。探针连接器包括基座、第二电路板、若干第一探针以及若干第二探针，第二电路板设置于基座，基座包括第一基部以及垂直设置于第一基部的第二基部，第一基部与壳体连接，第二基部自第一基部向壳体外延伸，第一探针沿第一方向穿设于第一基部，且第一探针的相对两端分别与第二电路板以及第一电路板电性连接，第二探针沿第二方向穿设于第二基部，且第二探针的相对两端分别与第二电路板以及待测芯片电性连接。如此设置，以实现对芯片的高、低性能进行同步测试。