物体表面放射污染测量系统及方法

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物体表面放射污染测量系统及方法
申请号:CN202510621864
申请日期:2025-05-14
公开号:CN120577842A
公开日期:2025-09-02
类型:发明专利
摘要
物体表面放射污染测量系统及方法,涉及核辐射探测技术领域。物体表面放射污染测量系统,包括核用机器人、探测器和PC机;核用机器人包括可移动机座和多自由度机械臂,多自由度机械臂的末端安装有夹爪;探测器包括CMOS传感器、电路板、芯片板和外壳;外壳被夹持在夹爪上;PC机与芯片板通信连接。一种物体表面α、β粒子污染测量方法,基于物体表面放射污染测量系统,方法如下:数据采集;特征提取;污染定位。本发明用于对α和β污染表面的自动测量;可实现对污染区域的快速识别定位和定量分析,具有高自动化、高精度和高灵敏度的特点,适用于多种应用场景,如放射性废液表面污染测量和零部件表面污染扫描等。
技术关键词
CMOS传感器 测量方法 芯片板 物体 PC机 信号 分布特征 待测表面 核辐射探测技术 多自由度机械臂 外壳 射线屏蔽材料 消除环境噪声 探测器 粒子 电路板 机器人 USB数据线
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