摘要
物体表面放射污染测量系统及方法,涉及核辐射探测技术领域。物体表面放射污染测量系统,包括核用机器人、探测器和PC机;核用机器人包括可移动机座和多自由度机械臂,多自由度机械臂的末端安装有夹爪;探测器包括CMOS传感器、电路板、芯片板和外壳;外壳被夹持在夹爪上;PC机与芯片板通信连接。一种物体表面α、β粒子污染测量方法,基于物体表面放射污染测量系统,方法如下:数据采集;特征提取;污染定位。本发明用于对α和β污染表面的自动测量;可实现对污染区域的快速识别定位和定量分析,具有高自动化、高精度和高灵敏度的特点,适用于多种应用场景,如放射性废液表面污染测量和零部件表面污染扫描等。
技术关键词
CMOS传感器
测量方法
芯片板
物体
PC机
信号
分布特征
待测表面
核辐射探测技术
多自由度机械臂
外壳
射线屏蔽材料
消除环境噪声
探测器
粒子
电路板
机器人
USB数据线
系统为您推荐了相关专利信息
图像生成模型
图像生成方法
双编码器
对象
三维结构
分布式光纤光栅
压力容器
电容检测模块
耐高温玻璃
信号处理终端
转矩传感器
嵌入式控制系统
加权融合算法
测试方法
短时傅里叶变换
数据标注方法
训练检测模型
物体
轨迹
计算机可存储介质
捕捉物体图像
计算机视觉技术
曲面重建算法
全卷积网络
多尺度注意力机制