测试验收接线方案生成方法、装置、电子设备及存储介质

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测试验收接线方案生成方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202411550956
申请日期:2024-11-01
公开号:CN119296128A
公开日期:2025-01-10
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种测试验收接线方案生成方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括获取待验收二次系统的包括一次主接线图和二次设备描述图的描述文件;对一次主接线图进行图形化信息解析得到第一类表示向量,并对二次设备描述图进行图形化信息解析得到第二类表示向量;以第一类表示向量作为仿查询特征向量并以第二类表示向量作为仿键特征向量,对仿查询特征向量和仿键特征向量进行基于局部邻域优化的查询解析以捕捉一次设备与二次设备的部署关系并得到接线方案语义表示;基于接线方案语义表示生成待验收二次系统的测试验收接线方案图。本发明的技术方案确保生成的接线方案具有全面性和可靠性。
技术关键词
二次设备 主接线图 二次系统 特征值 语义 时序 生成方法 邻域 编码向量 电子设备 注意力 序列 处理器 可读存储介质 矩阵 级联 计算机 模块
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