一种芯片测试底座

一种芯片测试底座，包括底座主底板、转动轴套、压紧件、芯片定位框。其中，转动轴套有两段，同轴固定在该底座主底板上表面的一端。压紧件开口端的两个端头折弯成转轴并安装在所述转动轴套内，通过二者间的配合使压紧件实现180°旋转。该压紧件另一端贴合在底座主底板；芯片定位框中除开口部位的两个端头以外均固定在底座主底板上表面；该开口部位开口端靠近压紧件的固定段。本发明的压紧件采用钢丝制作，工艺简单便捷，可自由拆卸、安装，适配各种尺寸的芯片，有利于芯片测试过程中的芯片更换，将芯片拆卸/安装的时间缩短了30％、将芯片测试过程中的芯片损坏率降低了70％，从而提高了被测芯片的使用寿命。