摘要
本申请公开了一种检测装置的测试方法及检测装置,其中,所述测试方法包括:将多个测试芯片插接到检测装置的插座中;其中,所述测试芯片与所述插座一一对应插接,得到多个测试连通组;将所述测试连通组依次并联得到测试电路;采样所述测试电路的反馈信号,并基于所述反馈信号确定所述各所述插座的工作状态。通过上述方式,能够快速有效地监测插座的工作状态,大幅提高检测装置的检测过程中的效率与准确性,原理简单,实用方便,满足生产需求。
技术关键词
电路单元
测试方法
测试电路
芯片
漏电流
探针结构
电信号
阵列
电阻
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