一种提高芯片并测DUT数的方法及系统

本发明公开了一种提高芯片并测DUT数的方法及系统，属于芯片测试技术领域。包括以下步骤：根据芯片测试原理图进行外围电路继电器分析；根据自动测试设备数字板卡配置资源获取数字输入输出通道的数量；根据自动测试设备的电源板卡的通道资源以及获取的数字输入输出通道数量，计算获得并行测试的被测芯片数量。相较于现有技术，本发明的有益之处在于，通过优化被测芯片的并测数量，大幅缩短了整体测试时间，从而提升了自动测试设备的测试效率；由于测试效率的提升，相同数量的芯片可以在更短的时间内完成测试，从而减少了测试设备的使用时间和人力成本，进而降低了芯片的批量测试成本。